Aplicaciones

Análisis de errores - Defecto sustrato T0 detectado en Radiografía X

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Exámen radiográfico realizado en el contexto de un análisis de errores en un componente electrónico BGA que presentaba un fallo tipo "Short".

El defecto observado es un cortocircuito entre 2 pistas de sustrato, probablemente un "defecto sustrato T0".

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