Journée thématique "Photonique et Contrôle Qualité des Surfaces et Interfaces"
Mercredi 14 Octobre 2015, Journée thématique "Photonique et Contrôle Qualité des Surfaces et Interfaces" dans les locaux du Cetim France à Saint-Etienne en partenariat avec Minalogic et le pôle de compétitivité ViaMeca.
Les points forts de cette journée :
Un cycle de conférences complémentaires et variées par des spécialistes du domaine, réalisant un état des lieux sur ce thème et offrant aux participants des connaissances approfondies sur l'ensemble des sujets en lien avec ce thème.
Une session posters & démonstrations donnant à chacun la possibilité de participer activement à cette journée en présentant ses compétences, ses services, ses sujets d'investigation, ses offres
Un tour de table pour que chacun puisse s'exprimer sur le sujet
Le rassemblement de participants d'horizons différents, aussi bien académiques qu'industriels (R&D, fabricants, intégrateurs et utilisateurs). Affluence moyenne en 2014 : 60 participants
Un lieu d'échange et d'opportunités propice à faire émerger des projets de recherche et développement.