ESREF 2016: 27. EUROPÄISCHES SYMPOSIUM ÜBER ZUVERLÄSSIGKEIT VON ELEKTRONISCHEN BAUTEILEN, PHYSIK UND ANALYSE VON DEFEKTEN – 19.-22. September 2016 - Händel-Halle, Halle (Saale)
Die Konferenz wird wiederum fokussiert sein auf neueste Entwicklungen und zukünftige Richtungen in den Bereichen Qualität, Robustheit und Zuverlässigkeit von Materialien, Komponenten, integrierten Schaltkreisen/Systemen sowie Nano-, Micro-, Power-, und Opto-elektronische Bauteile. ESREF ist das führende europäische Forum zur Entwicklung aller Aspekte des Zuverlässigkeitsmanagements und der Fehlerprävention von aktuellen und zukünftigen elektronischen Bauteilen. ESREF 2016 wird sich insbesondere mit der Zuverlässigkeit von Automobilelektronik beschäftigen.
Ein Wort vom Chairman
Im Hinblick auf aktuelle Technologie- und Marktentwicklungen in der Automobilindustrie ist es sehr beeindruckend festzustellen, mit welcher Geschwindigkeit die Elektronik einer der wichtigsten Faktoren in den heutigen Automobilanwendungen wurde. Neue Trends wie assistiertes Fahren und vernetzten Autos, elektrische Fahrzeugen oder Fortschritte in Motor- und Sicherheitsmanagement sind extrem abhängig von zunehmend komplexeren Systemen basierend auf Halbleitern. Daher beeinflussen diese neuen Anwendungsfelder stark die Technologiefahrpläne in der Elektronikindustrie. Und es gibt keinen Zweifel: diese Entwicklung wir ebenfalls viele neue und herausfordernde Anforderungen insbesondere an die elektronische Robustheit und Zuverlässigkeit stellen.
Daher wird ESREF 2016 weiterhin das gesamte Spektrum an Fragen zur elektronischen Zuverlässigkeit abdecken, und zusätzlich den Bereich Zuverlässigkeit von Automobilelektronik als Spezialthema betonen. Es ist mir ein groβes Vergnügen Sie zum Treffen der Experten in elektronischer Zuverlässigkeit und Fehleranalyse auf die ESREF 2016 in Halle (Saale) einzuladen!
Matthias Petzold
Fraunhofer Institute for Microstructure of Materials and Systems (IWMS)
Center for Applied Microstructure Diagnostics (CAM)
