Analyse de défaillance - Défaut substrat T0 détecté en Radiographie X
Secteur d'activité :
Technique de contrôle :
Examen radiographique réalisé dans le cadre d'une analyse de défaillance sur un composant électronique BGA qui présentait une défaillance électrique type "Short" .
Le défaut observé est un court-circuit entre 2 pistes du substrat , probablement un "défaut substrat T0".
