Contrôle de report d'un BGA par RX après réparation - Court-circuit et inhomogénéité de taille de billes Microelectronique Radiographie X 2D
Analyse de défaillance - Open et surconsommation - EOS et fils fondus Microelectronique Radiographie X 2D
Analyse de défaillance - Défaut substrat T0 détecté en Radiographie X Microelectronique Radiographie X 2D
Analyse de défaillance Multi-open - Broken stitch - Radiographie X Microelectronique Radiographie X 2D
Radiographie X - Analyse de défaillance - Pont de diodes défectueux Energie/Pétrochimie Radiographie X 2D
Contrôle brasure sous puce - RX et Microscopie acoustique Aéronautique/Spatial Microscopie acoustique Radiographie X 2D